Dielektrische Hochtemperatur-Cp-D-Prüfung (DMS-1000)

Kapazität (Kapazität), auch „elektrische Kapazität“ genannt, bezeichnet die Menge an freier Ladung, die unter einer bestimmten Potentialdifferenz, dargestellt durch C, gespeichert ist. Ladungen bewegen sich unter der Wirkung eines elektrischen Feldes. Wenn zwischen Leitern ein dielektrisches Medium vorhanden ist, wird die Ladungsbewegung behindert, was dazu führt, dass sich Ladungen auf den Leitern ansammeln, was zur Speicherung und Akkumulation elektrischer Ladung führt. Die Menge der gespeicherten Ladung wird als Kapazität (Cp-D) definiert.

Unter einem konstanten elektrischen Feld oder einem wechselnden elektrischen Feld mit ausreichend niedriger Frequenz ist die relative Permittivität eines isotropen oder quasi-isotropen dielektrischen Mediums gleich dem Verhältnis der Kapazität des Kondensators zur Kapazität derselben Elektrodenkonfiguration im Vakuum, wobei der Raum zwischen den Elektroden und dem umgebenden Bereich der Elektroden vollständig mit dem dielektrischen Medium gefüllt ist.
Unter einem stationären sinusförmigen elektrischen Feld wird die relative komplexe Permittivität als Dielektrizitätskonstante ausgedrückt durch die komplexe Größe ε, wie in der folgenden Abbildung dargestellt:

1. Testparameter: Cp - D
2. Messfrequenzbereich: 100 – 30 MHz
3. Temperaturbereich: -159 – 450 °C, Raumtemperatur – 1000 °C, 800 – 1650 °C

1. Empfohlene Probenabmessungen: φ2–20 mm × t (1 – 10 mm)
2. Die beiden großen flachen Oberflächen der Probe müssen mit einer Metallschicht beschichtet sein, die als Elektroden dient (Xinlibo Technology bietet Elektrodenbeschichtungsdienste an).

1. GB/T 11310-1989 Testmethoden für Eigenschaften piezoelektrischer Keramikmaterialien – Messung der Temperatureigenschaften der relativen freien Permittivität
2. GB/T 31838.6-2021 Feste Isoliermaterialien – Dielektrische und elektrische Eigenschaften – Teil 6: Dielektrische Eigenschaften (AC-Methoden): Relative Permittivität und dielektrischer Verlustfaktor