圧電フィルムの常温縦方向圧電係数 d33 試験（実験室環境）

圧電フィルムの長手方向の圧電係数 d33 は、材料の機械エネルギーと電気エネルギーの変換効率を特徴付ける中心的なパラメーターです。単位はpC/Nです。その値は、圧電センサー、フレキシブルトランスデューサー、エネルギーハーベスティングデバイスなどのコアコンポーネントの性能の上限を直接決定します。常温（25℃±1℃）実験室環境下での d33 試験は、圧電フィルム材料の研究開発、性能校正、品質管理における基本的なリンクです。試験結果の精度と再現性は、材料用途の適合性を評価するために非常に重要です。

1.テストの中心原理

d33 テストは正の圧電効果に基づいています。圧電フィルムの分極方向に沿って機械的圧力が加えられると、材料内の正と負の電荷中心が相対的に移動し、異なる符号を持つ同量の誘導電荷が上部に生成されます。そして下面。電荷密度は、式 D3=d33・T3 (D3 は電気的変位、T3 は縦方向の応力) に従って、加えられた応力と線形に関係します。常温試験では準静的方法を採用しており、動的高周波干渉を避けるために低周波交流力（10Hz～100Hz）を加えて静的応力状態をシミュレートします。同時に、ロックイン増幅技術と一致し、弱い電荷信号を抽出し、d33 値を正確に計算します。

2.環境条件

標準的な実験室環境は厳密に制御する必要があります: 温度 25℃±1℃、相対湿度 40% ～ 60%、強い電磁場 (高周波機器、モーターなど) や振動源から離し、弱い充電信号に対する環境ノイズの干渉を軽減します。力センサーやチャージアンプなどのコアコンポーネントが安定して動作することを確認するために、テスト前に装置を 30 分間ウォームアップする必要があります。

2.接触状態：電極とフィルム表面が気泡や隙間なく密着していること。接触不良による信号の減衰を避けるために、プローブの平坦度を定期的にチェックしてください。

3.基板の変形: フィルム基板は、テスト中の基板の曲げによって生じる応力干渉を軽減するのに十分な剛性を備えている必要があります。必要に応じて、硬い固定具を使用して基板の端を固定します。

4.環境干渉: 温度と湿度を厳密に管理し、テスト中の人の動きや機器の振動を避けてください。テスト領域をシールドして、弱い電荷信号に対する電磁ノイズの影響を軽減します。

4.圧電フィルムの室温における d33 試験の試験の意義と応用価値

常温 d33 試験は、圧電フィルムの性能評価の基本的な方法であり、材料配合の最適化、分極プロセスの調整、およびデバイス構造の設計に重要なデータ サポートを提供できます。室温でのさまざまな種類の圧電膜の d33 値は大きく異なります。PZ​​T 膜は約 20 ～ 80pC/N、PVDF 膜は約 5 ～ 20pC/N、AlN 膜は約 1 ～ 5pC/N です。テスト結果は材料の選択を直接導き、センサー、ウェアラブルデバイス、エネルギー収集などのさまざまなアプリケーションシナリオに適応できます。

Bailibo 試験は、GB/T 11309-1989 などの国家規格に厳密に従い、準静的方法と高精度の試験装置を使用して、圧電フィルムの正確で信頼性の高い室温 d33 試験サービスを提供します。試験データは、科学研究論文の出版、製品品質認証、技術研究開発の反復に使用でき、先端電子デバイスの分野での圧電フィルム材料の応用を支援します。