
Категории аксессуаров
Обзор
Кварцевый тигель высокой чистоты MatMeas разработан для прецизионного выращивания монокристаллов в производстве полупроводниковых пластин и солнечных фотоэлектрических систем.
Изготовленные из плавленого кварца премиум-класса (SiO₂ >99,99%), наши тигли обеспечивают исключительную стойкость к термическому удару и сохраняют структурную целостность при экстремальных температурах до 1500°C. Низкое содержание алюминия и щелочных металлов сводит к минимуму риск загрязнения в процессе вытягивания кремниевых слитков.
Доступны как в прозрачной, так и в непрозрачной конфигурации, с настраиваемыми размерами, подходящими для обычных съемников кристаллов (CGS, Kayex и т. д.). Услуги OEM/ODM доступны для оптовых заказов.
Технические характеристики
| Состав материала | Плавленый кварц высокой чистоты SiO₂ |
| Уровень чистоты | >99,99% (содержание SiO₂) |
| Содержание алюминия | <15 частей на миллион |
| Щелочные металлы (Na, K, Li) | <2 частей на миллион |
| Максимальная рабочая температура | 1500°C (краткосрочно: 1600°C) |
| Точка размягчения | ~1650°С |
| Плотность | 2,07-2,21 г/см³ |
| Коэффициент теплового расширения | 5,5 × 10⁻⁷/°С (20–300°С) |
| Доступные типы | Прозрачный/непрозрачный/с покрытием |
| Стандартные размеры | Диаметр 12–40 дюймов (настраиваемый) |
| Толщина стенки | 5–15 мм (настраиваемый) |
| Приложения | CZ Silicon Pulling, LED Sapphire, Оптическое волокно |
| Упаковка | Вакуумная упаковка для чистых помещений |
Приложения
- Полупроводниковый кремниевый слиток
Метод CZ (Чохральского) выращивание монокристаллического кремния для микросхем - Солнечная фотоэлектрическая промышленность
Вытяжка слитков поликремния для солнечных элементов - Производство светодиодов
Подложки для выращивания кристаллов сапфира - Преформа оптического волокна
Производство стеклянных преформ высокой чистоты - Редкоземельные материалы
Рафинирование металлов с высокой температурой плавления - Лабораторное применение
Высокотемпературный химический анализ и исследование материалов
Часто задаваемые вопросы
Каков основной принцип измерения H?
H разработан с использованием передовых методов определения электрических характеристик для измерения кварцевого тигля высокой чистоты с чрезвычайной точностью, исключая сопротивление свинца и колебания температуры.Какие формы и формы образцов поддерживаются?
Система поддерживает образцы стандартной геометрии, включая сплошные блоки, круглые тонколистовые диски и прямоугольные стержни со специальными испытательными приспособлениями.Соответствует ли H международным лабораторным стандартам?
Да, все измерения полностью соответствуют международным нормам, таким как стандарты ASTM, IEEE и GB/T, что позволяет предоставлять публикуемые данные исследовательского уровня.