
Categorías de productos
- Sistema de espectroscopia de impedancia dieléctrica
- Sistema de medición piezoeléctrica
- Sistema de medición de resistividad
- Sistema de polarización de alto voltaje para cerámicas piezoeléctricas
- Sistemas de sellado térmico al vacío
- Analizador ferroeléctrico
- Sistema de medición piroeléctrica
- Medición de componentes sensibles
Descripción general
El sistema de medición in situ d33 de precisión MatMeas PEMS está diseñado para la caracterización avanzada de materiales piezoeléctricos. El sistema integra tecnología dinámica de trazabilidad directa y evaluación de vibración por resonancia de CA para medir parámetros piezoeléctricos con mayor precisión y confiabilidad que los medidores cuasiestáticos d33 tradicionales. Admite la medición de múltiples formas de muestras, como discos, anillos, tubos, bloques y tiras, lo que lo hace adecuado para institutos de investigación, laboratorios de materiales y producción de componentes piezoeléctricos industriales.
Especificaciones
| Frecuencia de fuerza | 30Hz – 300Hz |
| Frecuencia predeterminada | 110Hz |
| Precisión de frecuencia | 0,1 Hz |
| Modo RÁPIDO | 2 s al 1% de la lectura final |
| Modo MEDIO | 5 s al 1% de la lectura final |
| Modo LENTO | 10 s al 1% de la lectura final |
| Interfaz de comunicación | RS232, USB |
| Fuente de alimentación | 220–240 VCA 50–60 Hz 0,5 A |
| Energía alternativa | 100–120 VCA 50–60 Hz 1 A |
| Temperatura de almacenamiento | 0°C – 50°C |
| Temperatura de funcionamiento | 10°C – 40°C |
| Temperatura de calibración | 25ºC |
| Tamaño del instrumento | 600 × 540 × 1530 mm |
| Tamaño de la unidad de medida | 350 × 250 × 100 mm |
| Tamaño de la unidad de fuerza | 145 × 150 × 175 mm |
Aplicaciones
- Investigación sobre cerámica piezoeléctrica
- desarrollo de sensores y actuadores
- ensayos de materiales aeroespaciales y de defensa
- laboratorios de semiconductores
- institutos de investigación de materiales avanzados
- Inspección de calidad industrial de componentes piezoeléctricos.
Más detalles
- Características del analizador piezoeléctrico PEMS
Admite la medición de coeficientes d33, d31 y d15. Mide parámetros de circuito equivalentes, incluidos C1, L1, R1 y C0, y frecuencias de resonancia fs, fp, fm, fn, fa y fr. La medición de fuerza dinámica permite el análisis de la variación de d33 bajo diferentes condiciones de precarga - Especificaciones del analizador piezoeléctrico PEMS
frecuencia de medición 30–300 Hz, predeterminado 110 Hz, interfaces de comunicación RS232 y USB, exactitud de medición alta precisión con resultados repetibles para entornos industriales y de laboratorio.
Preguntas frecuentes
¿Cuál es el principio de medición principal de M?
M está diseñado utilizando métodos avanzados de caracterización eléctrica para medir el analizador piezoeléctrico con extrema precisión, eliminando la resistencia del cable y las fluctuaciones de temperatura.¿Qué formas y formas de muestra se admiten?
El sistema admite geometrías de muestra estándar, incluidos bloques sólidos, discos circulares de lámina delgada y barras rectangulares con accesorios de prueba especializados.¿M cumple con los estándares internacionales de laboratorio?
Sí, todas las mediciones se alinean completamente con normas internacionales como ASTM, IEEE y GB/T para brindar datos publicables con calidad de investigación.
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