Sistema de medición de resistividad
Sistema de resistividad de material conductor de alta temperatura RMS-1000C
RMS-1000C está diseñado para medir la resistividad de materiales conductores utilizando el método de 4 hilos, con precisión de nivel nΩ, rango de temperatura RT-1000 °C y entornos de vacío/atmósfera para materiales de carbono, metal y óxido.
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Sistema de resistividad de material aislante de alta temperatura RTS-1000I
RMS-1000I se especializa en medición de aislamiento de alta resistencia utilizando el método de electrodo de triple anillo, logrando un rango de 100Ω~10PΩ con un diseño de fijación patentado para aplicaciones aeroespaciales y electrónicas.
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Sistema de resistividad de sonda de cuatro puntos de alta temperatura RTS-1000P
RMS-1000P utiliza un método de sonda de cuatro puntos para medir la resistividad de películas delgadas y obleas, con medición electrostática dual, rango de 0,1 mΩ~100 MΩ y accesorio especializado para materiales semiconductores.
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Sistema de resistividad de semiconductores de alta temperatura RTS-1000S
RMS-1000S está optimizado para materiales semiconductores a granel con método de dos hilos y ofrece un rango de medición de 0,1 mΩ ~ 100 MΩ, electrodos de platino con resorte y entornos de múltiples atmósferas para una caracterización de resistividad compleja.
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