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Aperçu
Le système de mesure de résistivité RMS-1000S pour matériaux semi-conducteurs haute température offre des solutions complètes pour la caractérisation de semi-conducteurs massifs. En tant que fournisseur dédié de systèmes d'essai pour semi-conducteurs, nous proposons une mesure précise à deux fils pour le silicium, le germanium, le GaAs, l'InSb et les semi-conducteurs composés. Le montage breveté d'électrodes à ressort avec conception de dissipation thermique garantit un contact stable et une régulation de température précise de RT à 1000 °C, au service des universités, instituts de recherche et fabricants de semi-conducteurs dans le monde entier.
Spécifications
| Paramètre | Valeur |
| Principe de mesure | Méthode de mesure de résistivité à quatre fils |
| Mesure principale | Résistance et résistivité en fonction de la température/du temps |
| Température maximale du four | Jusqu'à 1100 °C |
| Précision de régulation de température | ±0,5 °C |
| Atmosphère | Inerte/oxydante/réductrice ; vide |
| Caractéristiques notables | Contact ressort + poids propre ; logiciel convivial pour débutants ; diagnostic de défauts |
| Plage de température | RT–600 °C / 1000 °C |
| Méthode de régulation de température | Régulation PID de précision (multi-étages) |
| Vitesse de chauffe | 0–10 °C/min (typique 3 °C/min) |
| Plage de résistance | 0,1 mΩ ~ 100 MΩ |
| Plage de résistivité | 1 mΩ·cm ~ 10 MΩ·cm |
| Spécification de l'échantillon | Ø <20 mm, d <5 mm |
| Méthode de mesure | Méthode à deux fils pour semi-conducteurs |
| Matériau des électrodes | Platine (supérieur/inférieur) |
| N° de brevet | 2019204156568 |
| Affichage | Écran tactile couleur 10,1" |
| Interface de données | USB |
| Stockage des données | Format TXT |
| Dimensions (L×H×l) | 630 × 640 × 450 mm |
| Poids | 42,5 kg |
| Alimentation électrique | 220 V ±10 %, 50 Hz, 2,6 kW |
| Environnement de fonctionnement | 5 °C à +40 °C |
| Normes | ASTM standards |
Applications
- Le RMS-1000S est conçu pour les matériaux semi-conducteurs massifs, notamment le silicium (Si), le germanium (Ge), l'arséniure de gallium (GaAs), l'antimoniure d'indium (InSb), les composés ternaires (GaAsAl, GaAsP) et les semi-conducteurs en solution solide (Ge-Si, GaAs-GaP). Indispensable pour le développement de thermistances PTC/NTC, la recherche sur les semi-conducteurs de puissance et la fabrication de capteurs de température.
En savoir plus
Mesure stable haute température
La conception à contact ressort + poids propre réduit les problèmes de contact et les sauts de données.
Contrôle et diagnostics
La régulation PID multi-étages et les indicateurs de diagnostic de défauts contribuent à maintenir la température et les contacts stables.
FAQ
Quel est le principal principe de mesure du RTS-1000S ?
Le RTS-1000S est conçu à l'aide de méthodes avancées de caractérisation électrique pour mesurer la résistivité des semi-conducteurs avec une extrême précision, éliminant ainsi la résistance du plomb et les fluctuations de température.Quels exemples de formes et de formulaires sont pris en charge ?
Le système prend en charge les géométries d'échantillons standard, notamment les blocs solides, les disques circulaires à feuilles minces et les barres rectangulaires avec des supports de test spécialisés.Le RTS-1000S est-il conforme aux normes internationales de laboratoire ?
Oui, toutes les mesures sont entièrement conformes aux normes internationales telles que les normes ASTM, IEEE et GB/T pour fournir des données publiables de qualité recherche.
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