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Visão geral
O sistema de medição de resistividade de sonda de quatro pontos de alta temperatura RMS-1000P foi projetado para filmes finos semicondutores e caracterização de wafer. Como uma fábrica experiente de equipamentos de teste de semicondutores, fornecemos medição precisa de resistência de folha e resistividade usando método eletrostático duplo. O sistema lida com filmes de silício, germânio, GaAs e ITO com sonda especializada com mola, suportando testes RT-1000°C em vácuo ou atmosferas controladas para laboratórios de P&D e fabricantes de wafers.
Especificações
| Parâmetro | Valor |
| Princípio de Medição | Método de quatro sondas em linha; combinação dupla de medição elétrica |
| Medição Principal | Resistividade e resistência da folha |
| Alcance | 0,1 mΩ–100 MΩ |
| Temperatura máxima do forno | Até 1100°C |
| Atmosfera | Inerte/oxidante/redutor; vácuo; atmosfera fluida |
| Recursos notáveis | Elevador com um toque; sonda compatível com filme fino; software profissional para filmes finos |
| Faixa de temperatura | TA-600°C / 1000°C |
| Precisão do controle de temperatura | ±0,5°C |
| Método de controle de temperatura | Controle de precisão PID |
| Taxa de aquecimento | 0-10 °C/min (típico 3 °C/min) |
| Faixa de resistência | 0,1mΩ ~ 100MΩ |
| Faixa de resistividade | 1mΩ.cm ~ 10MΩ.cm |
| Faixa de resistência da folha | 0,1mΩ ~ 100MΩ |
| Especificação de amostra | Filme fino 15-30mm, d<4mm |
| Método de medição | Sonda de quatro pontos dupla eletrostática |
| Material do eletrodo | Sondas de carboneto de tungstênio/platina |
| Resistência de isolamento de agulha | ≥1000MΩ |
| Material de isolamento | Cerâmica 99% alumina |
| Exibição | Tela sensível ao toque colorida de 10,1" |
| Interface de dados | USB |
| Interface de comunicação | Porta LAN |
| Armazenamento de dados | Formato TXT |
| Dimensões (C×A×L) | 630×640×450mm |
| Peso | 42,5kg |
| Fonte de alimentação | 220 V±10%, 50 Hz, 2,6 kW |
| Normas | ASTM F84, GB/T1551-2009, GB/T1551-1995 |
Aplicações
- O RMS-1000P é especializado na caracterização de filmes finos de semicondutores, incluindo wafers de silício, substratos de germânio, GaAs, InSb, GaAsAl, GaAsP, semicondutores de solução sólida e vidro condutor ITO. Crítico para fabricação de células solares, produção de LED, desenvolvimento de circuitos integrados e pesquisa de filmes condutores transparentes.
Mais detalhes
Vantagem de quatro sondas
O design clássico da sonda em linha ajuda a evitar danos às amostras de película fina.
Opções de atmosfera
Suporta atmosferas inertes/oxidantes/redutoras, vácuo e fluxo de gás para medições dependentes da temperatura.
Perguntas frequentes
Qual é o principal princípio de medição do RTS-1000P?
O RTS-1000P foi projetado usando métodos avançados de caracterização elétrica para medir o medidor de resistividade da sonda de quatro pontos com extrema precisão, eliminando a resistência do chumbo e as flutuações de temperatura.Quais formas e formatos de amostra são suportados?
O sistema suporta geometrias de amostras padrão, incluindo blocos sólidos, discos circulares de folhas finas e barras retangulares com acessórios de teste especializados.O RTS-1000P está em conformidade com os padrões laboratoriais internacionais?
Sim, todas as medições estão totalmente alinhadas com as normas internacionais, como os padrões ASTM, IEEE e GB/T, para fornecer dados publicáveis de nível de pesquisa.
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