Sistema de medição de resistividade
Sistema de resistividade de material condutor de alta temperatura RMS-1000C
O RMS-1000C foi projetado para medição de resistividade de materiais condutores usando o método de 4 fios, apresentando precisão de nível nΩ, faixa de temperatura RT-1000°C e ambientes de vácuo/atmosfera para materiais de carbono, metal e óxido.
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Sistema de resistividade de material de isolamento de alta temperatura RTS-1000I
O RMS-1000I é especializado em medição de isolamento de alta resistência usando o método de eletrodo de anel triplo, alcançando a faixa de 100Ω~10PΩ com design de acessório patenteado para aplicações aeroespaciais e eletrônicas.
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Sistema de resistividade de sonda de quatro pontos de alta temperatura RTS-1000P
O RMS-1000P usa método de sonda de quatro pontos para medição de resistividade de filme fino e wafer, apresentando medição eletrostática dupla, faixa de 0,1mΩ ~ 100MΩ e acessório especializado para materiais semicondutores.
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Sistema de resistividade semicondutora de alta temperatura RTS-1000S
O RMS-1000S é otimizado para materiais a granel semicondutores com método de dois fios, oferecendo faixa de medição de 0,1mΩ ~ 100MΩ, eletrodos de platina com mola e ambientes de múltiplas atmosferas para caracterização de resistividade complexa.
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