产品概述
MatMeas FEA1000 高精度铁电分析仪——专为铁电薄膜评估而设计的测量系统。仪器配置 ±100 V 高压源，可测量 P-E 滞回线并提取自发极化（Ps）、剩余极化（Pr）及矫顽场（Ec）等关键参数。
宽频范围（0.01 Hz 至 1 kHz）及 1 nA 至 10 mA 电流测量能力，FEA1000 可全面支持铁电、漏电流及脉冲开关特性研究。
广泛应用于高校、科研院所及工业实验室的先进介电功能陶瓷研究。
技术规格
| 参数 | 指标 |
| 测试电压范围 | ±100 V |
| 测量频率 | 0.01 Hz ~ 1 kHz |
| 电流测量范围 | 1 nA ~ 10 mA |
| 最小脉冲宽度 | 2 μs |
| 最小上升时间 | 1 μs |
| 最大负载电容 | 1 μF |
| 输出峰值电流 | 10 mA |
| 样品类型 | 薄膜材料 |
| 电源 | 220 V / 50/60 Hz |
| 重量 | 15 kg |
| 质保 | 1 年 |
应用场景
- 铁电薄膜研究
P-E 滞回、疲劳与印迹表征 - 介电功能陶瓷
极化开关与畴动力学研究。 - 存储器件开发
FeRAM 材料评估与优化。 - 压电材料
矫顽场与极化行为分析。 - 漏电流表征
时变介电击穿与传导机制研究。 - 学术与工业研发
高校、科研院所及企业实验室
常见问题
M 的主要测量原理是什么？
M 采用先进的电学表征技术，可高精度测量铁电分析仪，有效消除接触电阻与温漂干扰。支持哪些样品形状和规格？
系统支持标准的圆片、块体、棒材等多种样品几何形状，并配备专用高可靠性测试夹具。M 是否符合国际实验室标准？
符合。所有测量方法均完全对接 ASTM、IEEE、GB/T 等国际与国家行业标准，确保数据权威可信。