电阻和电阻率测量系统
RMS-1000C 高温导电材料电阻率测试系统
RMS-1000C 采用四线法测量导电材料电阻率，nΩ 级精度，室温–1000°C，支持真空与可控气氛，适用于碳材、金属及氧化物等。
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RMS-1000I 高温绝缘材料电阻率测试系统
RMS-1000I 采用三环电极法测量超高阻绝缘材料，量程 100 Ω–10 PΩ，专利夹具设计，适用于航天与电子等领域。
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RMS-1000P 高温四探针薄膜电阻率测试系统
RMS-1000P 采用四探针法测量薄膜与晶圆电阻率，双电测组合，量程 0.1 mΩ–100 MΩ，配备半导体材料专用夹具。
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RMS-1000S 高温半导体电阻率测试系统
RMS-1000S 针对半导体块体材料优化，两线法测量，量程 0.1 mΩ–100 MΩ，铂电极弹簧接触，多气氛环境，满足复杂电阻率表征需求。
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