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Das RMS-1000P Hochtemperatur-Vierpunkt-Sonden-Messsystem zur Spezifischen-Widerstandsmessung ist für die Charakterisierung von Halbleiter-Dünnschichten und Wafern ausgelegt. Als erfahrener Hersteller von Halbleiter-Prüfgeräten bieten wir präzise Flächenwiderstands- und Spezifischer-Widerstand-Messungen mit der dualen elektrostatischen Methode. Das System verarbeitet Silizium-, Germanium-, GaAs- und ITO-Schichten mit spezialisierter federbelasteter Sondenhalterung und unterstützt RT–1000 °C-Prüfungen im Vakuum oder in kontrollierten Atmosphären für F&E-Labore und Waferhersteller.
Spezifikationen
| Parameter | Wert |
| Messprinzip | Inline-Vierpunkt-Sonden-Methode; duale elektrische Messkombination |
| Hauptmessgröße | Spezifischer Widerstand und Flächenwiderstand |
| Messbereich | 0.1 mΩ–100 MΩ |
| Max. Ofentemperatur | Bis zu 1100°C |
| Atmosphäre | Inert/oxidierend/reduzierend; Vakuum; strömende Atmosphäre |
| Besondere Merkmale | Einhand-Hub; dünnfilmtaugliche Sonde; professionelle Dünnschicht-Software |
| Temperaturbereich | RT-600°C / 1000°C |
| Temperaturregelgenauigkeit | ±0.5°C |
| Temperaturregelung | PID-Präzisionsregelung |
| Heizrate | 0-10°C/min (typisch 3°C/min) |
| Widerstandsbereich | 0.1mΩ ~ 100MΩ |
| Spezifischer-Widerstandsbereich | 1mΩ.cm ~ 10MΩ.cm |
| Flächenwiderstandsbereich | 0.1mΩ ~ 100MΩ |
| Probenspezifikation | Dünnschicht 15-30mm, d<4mm |
| Messverfahren | Vierpunkt-Sonde, dual elektrostatisch |
| Elektodenmaterial | Wolframkarbid- / Platinsonden |
| Nadel-Isolationswiderstand | ≥1000MΩ |
| Isolationsmaterial | 99% Aluminiumoxid-Keramik |
| Display | 10,1" Farb-Touchscreen |
| Datenschnittstelle | USB |
| Kommunikationsschnittstelle | LAN-Anschluss |
| Datenspeicherung | TXT-Format |
| Abmessungen (L×H×B) | 630×640×450mm |
| Gewicht | 42.5kg |
| Stromversorgung | 220V±10%, 50Hz, 2.6kW |
| Normen | ASTM F84, GB/T1551-2009, GB/T1551-1995 |
Anwendungen
- Der RMS-1000P ist spezialisiert auf die Charakterisierung von Halbleiter-Dünnschichten einschließlich Siliziumwafern, Germaniumsubstraten, GaAs, InSb, GaAsAl, GaAsP, Mischkristall-Halbleitern und leitfähigem ITO-Glas. Entscheidend für die Solarzellenfertigung, LED-Produktion, integrierte Schaltungsentwicklung und die Forschung an transparenten leitfähigen Schichten.
Weitere Details
Vorteil der Vierpunkt-Sonde
Klassisches Inline-Sondendesign hilft, Beschädigungen an Dünnschichtproben zu vermeiden.
Atmosphärenoptionen
Unterstützt inerte/oxidierende/reduzierende Atmosphären, Vakuum und strömendes Gas für temperaturabhängige Messungen.
FAQ
Was ist das primäre Messprinzip des RTS-1000P?
Das RTS-1000P wurde unter Verwendung fortschrittlicher elektrischer Charakterisierungsmethoden entwickelt, um den Widerstandsmesser mit Vierpunktsonde mit äußerster Präzision zu messen und Leitungswiderstände und Temperaturschwankungen zu eliminieren.Welche Beispielformen und Formen werden unterstützt?
Das System unterstützt Standardprobengeometrien, einschließlich massiver Blöcke, kreisförmiger Dünnblechscheiben und rechteckiger Stangen mit speziellen Testvorrichtungen.Entspricht RTS-1000P den internationalen Laborstandards?
Ja, alle Messungen entsprechen vollständig internationalen Normen wie ASTM, IEEE und GB/T-Standards, um veröffentlichungsfähige Daten in Forschungsqualität zu liefern.
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