
Categorie di prodotti
- Sistema di spettroscopia di impedenza dielettrica
- Sistema di misurazione piezoelettrica
- Sistema di misurazione della resistività
- Sistema di polarizzazione ad alta tensione per ceramiche piezoelettriche
- Sistemi di sigillatura termica sottovuoto
- Analizzatore ferroelettrico
- Sistema di misurazione piroelettrica
- Misurazione dei componenti sensibili
Panoramica
Stazione di sonda per vuoto criogenico MatMeas CPS7000: un sistema da banco compatto progettato per misurazioni elettriche precise di materiali sfusi, a film sottile e multistrato. Lo strumento supporta un ampio intervallo di temperature da -160℃ a 450℃ utilizzando il raffreddamento ad azoto liquido, con eccellente stabilità della temperatura (±0,5℃) e velocità di rampa programmabili. Dotato di quattro bracci sonda micromanipolati, consente un contatto accurato per diversi test, tra cui misurazioni dielettriche, ferroelettriche, piezoelettriche, piroelettriche e TSDC. Il CPS7000 è uno strumento essenziale per università, istituti di ricerca, laboratori aerospaziali e della difesa che necessitano di misurazioni affidabili del vuoto e della temperatura variabile.
Specifiche
| Parametro | Valore |
| Dimensione del campione: | φ < 40 mm, spessore < 5 mm |
| Alimentazione: | 220 V ±10%, 50 Hz |
| Misurazione della temperatura | :-160℃ ~ 450℃ |
| Ambiente operativo | : -10℃ ~ 50℃ |
| Numero di bracci della sonda: | 4 |
| Metodo di raffreddamento: | Azoto liquido |
| Precisione del controllo della temperatura | ±5°C |
| Pendenze della velocità di riscaldamento | 0 ~ 10℃/min (tipico 3℃/min) |
| Velocità di raffreddamento: | 1 ~ 10℃/min (programmabile) |
| Visualizzazione ottica: | vetro al quarzo φ55 mm |
| Modalità di controllo della temperatura: | Riscaldamento,temperatura costante, Riscaldamento/Raffreddamento Ciclo |
| Moduli di misura: | Dielettrico, Resistenza, Piroelettrico, TSDC |
| Modalità operativa: | Semiautomatico |
| Dimensioni dell'attrezzatura | 435 × 435 × 205 mm (L × P × A) |
| Peso | 32 kg |
| Garanzia | 1 anno |
Applicazioni
- Materiali ferroelettrici e piezoelettrici
- Film sottili dielettrici
- Studi piroelettrici e TSDC
- Materiali optoelettronici
- Dispositivi a semiconduttore
- Ricerca su multiferroici e memristor
Domande frequenti
Qual è il principio di misurazione primario di M?
M è progettato utilizzando metodi avanzati di caratterizzazione elettrica per misurare l'analizzatore piezoelettrico con estrema precisione, eliminando la resistenza del cavo e le fluttuazioni di temperatura.Quali forme e forme campione sono supportate?
Il sistema supporta geometrie di campioni standard tra cui blocchi solidi, dischi circolari in lamiera sottile e barre rettangolari con dispositivi di prova specializzati.M è conforme agli standard di laboratorio internazionali?
Sì, tutte le misurazioni sono completamente in linea con le norme internazionali come ASTM, IEEE e gli standard GB/T per fornire dati pubblicabili e di livello di ricerca.
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