Sistema di misurazione della resistività
Sistema di resistività per materiale conduttivo ad alta temperatura RMS-1000C
RMS-1000C è progettato per la misurazione della resistività dei materiali conduttivi utilizzando il metodo a 4 fili, con precisione a livello di nΩ, intervallo di temperatura RT-1000°C e ambienti sottovuoto/atmosferici per materiali di carbonio, metallo e ossido.
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Sistema di resistività del materiale isolante per alte temperature RTS-1000I
RMS-1000I è specializzato nella misurazione dell'isolamento ad alta resistenza utilizzando il metodo dell'elettrodo a triplo anello, raggiungendo un intervallo di 100Ω~10PΩ con un design brevettato per applicazioni aerospaziali ed elettroniche.
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Sistema di resistività della sonda a quattro punti ad alta temperatura RTS-1000P
RMS-1000P utilizza il metodo della sonda a quattro punti per la misurazione della resistività del film sottile e del wafer, con misurazione dual-elettrostatica, intervallo 0,1 mΩ ~100 MΩ e dispositivo specializzato per materiali semiconduttori.
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Sistema di resistività a semiconduttore ad alta temperatura RTS-1000S
RMS-1000S è ottimizzato per materiali sfusi semiconduttori con metodo a due fili, offrendo un intervallo di misurazione di 0,1 mΩ~100 MΩ, elettrodi di platino caricati a molla e ambienti ad atmosfera multipla per la caratterizzazione della resistività complessa.
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