
Categorie di prodotti
- Sistema di spettroscopia di impedenza dielettrica
- Sistema di misurazione piezoelettrica
- Sistema di misurazione della resistività
- Sistema di polarizzazione ad alta tensione per ceramiche piezoelettriche
- Sistemi di sigillatura termica sottovuoto
- Analizzatore ferroelettrico
- Sistema di misurazione piroelettrica
- Misurazione dei componenti sensibili
Panoramica
QUERY LENGTH LIMIT EXCEEDED. MAX ALLOWED QUERY : 500 CHARS
Specifiche
| Frequenza forza | 30 Hz – 300 Hz |
| Frequenza predefinita | 110 Hz |
| Precisione della frequenza | 0,1 Hz |
| Modalità veloce | Da 2 s a 1% della lettura finale |
| Modalità MEDIA | Da 5 s all'1% della lettura finale |
| Modalità LENTA | Da 10 s a 1% della lettura finale |
| Interfaccia di comunicazione | RS232 / USB |
| Alimentazione | 220–240V AC 50–60Hz 0.5A |
| Alimentazione alternativa | 100–120V AC 50–60Hz 1A |
| Temperatura di stoccaggio | 0°C – 50°C |
| Temperatura di esercizio | 10°C – 40°C |
| Temperatura di calibrazione | 25°C |
| Dimensione dello strumento | 600 × 540 × 1530 mm |
| Dimensione dell'unità di misura | 350 × 250 × 100 mm |
| Dimensione dell'unità di forza | 145 × 150 × 175 mm |
Applicazioni
- Ricerca ceramica piezoelettrica
- sviluppo sensori e attuatori
- collaudo materiali aerospaziali e difesa
- laboratori di semiconduttori
- istituti di ricerca materiali avanzati
- ispezione della qualità industriale dei componenti piezoelettrici.
Maggiori dettagli
- Caratteristiche dell'analizzatore piezoelettrico PEMS
Supporta la misurazione dei coefficienti d33, d31 e d15. Misura parametri di circuito equivalenti tra cui C1, L1, R1 e C0 e frequenze di risonanza fs, fp, fm, fn, fa e fr. La misurazione dinamica della forza consente l'analisi della variazione d33 in diverse condizioni di precarico - Specifiche dell'analizzatore piezoelettrico PEMS
frequenza di misura 30–300 Hz, default 110 Hz, interfacce di comunicazione RS232 e USB, precisione di misura elevata precisione con risultati ripetibili per ambienti di laboratorio e industriali.
Domande frequenti
Qual è il principio di misurazione primario di M?
M è progettato utilizzando metodi avanzati di caratterizzazione elettrica per misurare l'analizzatore piezoelettrico con estrema precisione, eliminando la resistenza del cavo e le fluttuazioni di temperatura.Quali forme e forme campione sono supportate?
Il sistema supporta geometrie di campioni standard tra cui blocchi solidi, dischi circolari in lamiera sottile e barre rettangolari con dispositivi di prova specializzati.M è conforme agli standard di laboratorio internazionali?
Sì, tutte le misurazioni sono completamente in linea con le norme internazionali come ASTM, IEEE e gli standard GB/T per fornire dati pubblicabili e di livello di ricerca.
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