
产品分类
产品概述
MatMeas CPS7000 低温真空探针台为紧凑型台式系统,面向块体、薄膜及多层材料的精密电学测量。仪器采用液氮冷却,温区 -160℃ 至 450℃,温控稳定(±0.5℃),升温/降温速率可编程。配置四路微操纵探针臂,可精准探针接触,支持介电、铁电、压电、热释电及 TSDC 等多种测试。CPS7000 是高校、科研院所及航空航天、国防实验室开展可靠真空与变温探针测试的必备设备。
技术规格
| 参数 | 指标 |
| 样品尺寸: | φ < 40 mm,厚度 < 5 mm |
| 电源: | 220V ±10%, 50Hz |
| 测量温度 | :-160℃ ~ 450℃ |
| 工作环境 | :-10℃ ~ 50℃ |
| 探针臂数量: | 4 |
| 冷却方式: | 液氮 |
| 温控精度 | ±5°C |
| 升温斜率 | 0 ~ 10℃/min(典型 3℃/min) |
| 降温速率: | 1 ~ 10℃/min(可编程) |
| 光学观察窗: | φ55 mm 石英玻璃 |
| 温控模式: | 加热、恒温、升/降温循环 |
| 测量模块: | 介电、电阻、热释电、TSDC |
| 操作模式: | 半自动 |
| 设备尺寸 | 435 × 435 × 205 mm(长 × 宽 × 高) |
| 重量 | 32 kg |
| 质保 | 1 年 |
应用场景
- 铁电与压电材料
- 介电薄膜
- 热释电与 TSDC 研究
- 光电子材料
- 半导体器件
- 多铁性与忆阻器研究
常见问题
M 的主要测量原理是什么?
M 采用先进的电学表征技术,可高精度测量piezoelectric analyzer,有效消除接触电阻与温漂干扰。支持哪些样品形状和规格?
系统支持标准的圆片、块体、棒材等多种样品几何形状,并配备专用高可靠性测试夹具。M 是否符合国际实验室标准?
符合。所有测量方法均完全对接 ASTM、IEEE、GB/T 等国际与国家行业标准,确保数据权威可信。
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