MatMeas CPS7000 低温真空探针台 — 1

产品概述

MatMeas CPS7000 低温真空探针台为紧凑型台式系统,面向块体、薄膜及多层材料的精密电学测量。仪器采用液氮冷却,温区 -160℃ 至 450℃,温控稳定(±0.5℃),升温/降温速率可编程。配置四路微操纵探针臂,可精准探针接触,支持介电、铁电、压电、热释电及 TSDC 等多种测试。CPS7000 是高校、科研院所及航空航天、国防实验室开展可靠真空与变温探针测试的必备设备。

技术规格

参数 指标
样品尺寸: φ < 40 mm,厚度 < 5 mm
电源: 220V ±10%, 50Hz
测量温度 :-160℃ ~ 450℃
工作环境 :-10℃ ~ 50℃
探针臂数量: 4
冷却方式: 液氮
温控精度 ±5°C
升温斜率 0 ~ 10℃/min(典型 3℃/min)
降温速率: 1 ~ 10℃/min(可编程)
光学观察窗: φ55 mm 石英玻璃
温控模式: 加热、恒温、升/降温循环
测量模块: 介电、电阻、热释电、TSDC
操作模式: 半自动
设备尺寸 435 × 435 × 205 mm(长 × 宽 × 高)
重量 32 kg
质保 1 年

应用场景

  1. 铁电与压电材料
  2. 介电薄膜
  3. 热释电与 TSDC 研究
  4. 光电子材料
  5. 半导体器件
  6. 多铁性与忆阻器研究

常见问题

  • M 的主要测量原理是什么?

    M 采用先进的电学表征技术,可高精度测量piezoelectric analyzer,有效消除接触电阻与温漂干扰。
  • 支持哪些样品形状和规格?

    系统支持标准的圆片、块体、棒材等多种样品几何形状,并配备专用高可靠性测试夹具。
  • M 是否符合国际实验室标准?

    符合。所有测量方法均完全对接 ASTM、IEEE、GB/T 等国际与国家行业标准,确保数据权威可信。