PEMS-1000 压电测量系统 | MatMeas

MatMeas 高精度原位 d33 压电测量系统 — PEMS 分析仪 — 1

产品概述

MatMeas PEMS 精密原位 d33 测量系统面向压电材料高级表征。系统集成动态直接溯源技术与交流共振振动评估，相比传统准静态 d33 测试仪，以更高精度与可靠性测量压电参数。支持圆片、环、管、块、条等多种样品形状，适用于科研院所、材料实验室及工业压电元器件生产。

技术规格

激振频率	30 Hz – 300 Hz
默认频率	110 Hz
频率精度	0.1 Hz
快速模式	2 s 达到终值的 1%
中速模式	5 s 达到终值的 1%
慢速模式	10 s 达到终值的 1%
通信接口	RS232、USB
电源	220–240 V AC，50–60 Hz，0.5 A
备用电源	100–120 V AC，50–60 Hz，1 A
贮存温度	0°C – 50°C
工作温度	10°C – 40°C
校准温度	25°C
主机尺寸	600 × 540 × 1530 mm
测量单元尺寸	350 × 250 × 100 mm
激振单元尺寸	145 × 150 × 175 mm

应用场景

压电陶瓷研究
传感器与致动器开发
航空航天与国防材料测试
半导体实验室
先进材料科研院所
压电元器件工业质检

更多详情

PEMS 压电分析仪特点
支持测量 d33、d31、d15 系数；可测等效电路参数 C1、L1、R1、C0 及共振频率 fs、fp、fm、fn、fa、fr。动态力测量可在不同预载条件下分析 d33 变化
PEMS 压电分析仪规格
测量频率 30–300 Hz，默认 110 Hz；通信接口 RS232、USB；测量精度高，实验室与工业环境结果可重复。

常见问题

M 的主要测量原理是什么？
M 采用先进的电学表征技术，可高精度测量piezoelectric analyzer，有效消除接触电阻与温漂干扰。
支持哪些样品形状和规格？
系统支持标准的圆片、块体、棒材等多种样品几何形状，并配备专用高可靠性测试夹具。
M 是否符合国际实验室标准？
符合。所有测量方法均完全对接 ASTM、IEEE、GB/T 等国际与国家行业标准，确保数据权威可信。